USB 3.0規格のFAQ(3) ―― SuperSpeed USBのテストはどのように行うか？USB 3.0規格のFAQ(3) ―― SuperSpeed USBのテストはどのように行うか？ 畑山 仁 Q．認証テストでは何を測定するのか？ A．トランスミッタはアイの高さとジッタを測定し，レシーバはジッタ耐性テストを行う． データ・レートの高速化に伴い，ジッタの問題がクリティカルになってきています．高速シリアル・インターフェースのジッタは，クロック・リカバリ回路で再生されたクロックと実際のデータ・エッジの間のずれ（TIE：Time Interval Error）によって評価されます（図1）．TIEを計測するためには再生されたクロックが必要ですが，クロック・リカバリ回路により再生されたクロックは，チップ内部でしか得られません．そのため，認証テストの測定の際には，1M-UI（ユニット・インターバル）のデータをオシロスコープに取り込み，ソフトウェアでクロック・リカバリの機能をエミュレートす
