世界で初めて半導体ソフトエラーを引き起こす中性子のエネルギー特性を測定：NTT持株会社ニュースリリース：NTT HOME（報道発表資料） 2020年11月25日 日本電信電話株式会社 国立大学法人東海国立大学機構名古屋大学 国立大学法人北海道大学 世界で初めて半導体ソフトエラーを引き起こす中性子のエネルギー特性を測定 ～宇宙・他惑星などあらゆる環境での中性子起因ソフトエラー故障数を算出可能に～ 日本電信電話株式会社（本社：東京都千代田区、代表取締役社長：澤田 純、以下「NTT」）および国立大学法人東海国立大学機構名古屋大学（愛知県名古屋市、総長：松尾 清一、以下「名古屋大学」）、国立大学法人北海道大学（北海道札幌市、総長：寳金 清博、以下「北海道大学」）は共同で、中性子のもつエネルギーごとの半導体ソフトエラー（※1）発生率（※2）を“連続的な”データとして実測することに成功し、その全貌を世界で初めて明らかにしました。 この「ソフトエラー発生率の中性子エネルギー依存性のデータ」は、宇宙線による半導体影響の研究
